نقدم لكم ملف PDF كامل بعنوان
Addressing thermal and environmental reliability in GaN based high electron mobility transistors رسالة ماجستير
وهو ضمن التصنيف الرئيسي
الهندسة
والذي يقع تحت التصنيف الفرعي
الهندسة الميكانيكية
يجدر الذكر أن الملف يقع تحت قسم
رسائل الماجستير والدكتوراه (ملفات PDF).