نقدم لكم ملف PDF كامل بعنوان
Characterization of residual stresses in birefringent materials applied to multicrystalline silicon wafers رسالة دكتوراه
وهو ضمن التصنيف الرئيسي
الهندسة
والذي يقع تحت التصنيف الفرعي
الهندسة الميكانيكية
يجدر الذكر أن الملف يقع تحت قسم
رسائل الماجستير والدكتوراه (ملفات PDF).